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Charla:

Microscopia Electrónica de Alta Resolución de Emisión de Campo. Beneficios y aplicaciones de uso

Categoría: Centros de Investigación
Miércoles 20 de noviembre, 2:00 p. m.
2511-2341 cieaewlmic  @ucratxc.ac.cr
www.ciemic@ucr.ac.cr
Organiza: Centro de Investigación en Estructuras Microscópicas
Participantes:

Ing. Cristopher Arciga, gerente de línea de Microscopia Electrónica de Carl Zeiss de México